二手 ADE / KLA / TENCOR 5810 #9170075 待售

ADE/KLA/TENCOR 5810晶圆测试和计量设备是一种通用、高效的工具,旨在满足半导体制造业的一系列应用需求。它具有高通量率和广泛的晶圆测试功能,能够实现快速、准确的晶圆测试过程。该系统采用创新和先进的全盒式先进散射计量技术，旨在测量晶圆表面散射光的角度分布。此功能可分析各种薄膜厚度,同时对单个晶片上的光掩模和波导图样进行精确的测量。此外,此功能还降低了复杂性和成本,因为可以同时进行多次测量。该单元建立在一个高度自动化的平台上，包括一个内置的高分辨率TEM成像显微镜。这使得能够进行各种各样的图像分析操作，从EBSD（电子反向散射衍射）到电容测量和蚀刻处理。例如，TEM成像显微镜可用于测量液滴大小、线密度和图样取向，这对于半导体芯片的缺陷检测极为有用。此外，该机器还能够执行先进的晶圆测试程序，如缺陷隔离和3-D表面表征。这种能力对于了解晶片的整体性能以及隔离过程相关缺陷是必不可少的。最后,ADE 5810晶圆测试和计量工具被设计为用户友好,能够实现更高的吞吐量速率,同时仍能提供高精度和精确度。该资产具有广泛的特性和功能,对于那些希望快速、准确地测试晶片以实现多种目的的人来说,是一个理想的选择。