二手 ADE / KLA / TENCOR 6034 #9162772 待售

ADE / KLA / TENCOR 6034
ID: 9162772
Wafer sorter Flatness measurement system.
ADE/KLA/TENCOR 6034晶圆测试和计量设备是一种全自动检测器,非常适合生产前和生产后的半导体检验和计量。它提供了无与伦比的串联和离线晶圆检测性能,从而实现了快速的最终产量和控制。ADE 6034系统利用最新的晶圆表面分析技术,包括白光散射法、彩色成像和SLRD。这种技术组合有助于确保快速、准确地检测和识别任何缺陷、颗粒污染、划痕、边缘碎裂或其他异常。该装置的设计目的是在其使用寿命内实现高可靠性,并提供最小的晶圆报废率。机器使用高分辨率CCD相机,允许从晶圆的中心进行边缘观测,分析任何异常,以及值得信赖的分类。这样可以确保每个周期都提供可靠的检查结果。KLA 6034还利用强大的软件引擎和高级算法,使其能够快速准确地生成一致和可靠的数据。它能够在早期制造阶段检测任何类型的缺陷或异常,包括线缘粗糙度、线宽、金属分析和地形图。这样可以确保在尽可能短的时间内获得最准确、最可靠的工艺数据。TENCOR 6034还提供高度先进的模内计量。它整合了几种技术,如亮场回顾、光学显微镜、临界维度(CD)测量、迭加测量和SAT抄写员线回顾。这使得它能够提供任何样本的完整测量,无论大小或复杂性。6034通过减少生产中断来帮助降低成本。它可以轻松地集成到任何现有的半导体生产线中,并用于离线和联机处理。该工具确保最大限度地优化任何生产过程,有助于提高吞吐量并缩短上市时间。最后,该资产提供了较高的数据吞吐量,以加快数据吞吐量和缩短周期。此外,它是目前市场上最可靠、最可靠和最准确的晶圆测试和计量系统之一。
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