二手 ADE / KLA / TENCOR 7000 #163215 待售

ADE/KLA/TENCOR 7000是一种晶圆测试和计量设备，为半导体元件提供快速、准确、低缺陷密度的统计数据。该系统能够检查和测量晶片上每个模具的电气、光学和机械性能。它不仅为常规用途（如短裤和开口）提供分析,而且还对特征轮廓进行3 D测量,包括Step height、Overlap、Roughness和Critical尺寸。它的可重复性和准确性对于过程控制和产量最大化至关重要。ADE 7000利用先进的光学计量工具提供各种产品格式的精确数据。该单元采用创新的双轴先进光学计量工具，提供三维计量数据，结合晶圆的自动引导扫描。这允许快速测量晶片的各种特性，以及先进的异常检测能力。该机器还具有多种生产级别的软件和硬件选项。这包括基于Windows的软件套件、开放体系结构、自动晶圆管理和晶圆缺陷分析以及集成的视觉、统计和分析工具。所有这些功能使用户能够快速识别和分析晶片上的标准和复杂缺陷,从而提供准确的测量数据和缺陷管理,而无需手动输入。为确保准确性,KLA 7000具有自动半导体模具和模具对准功能,以及全球校准标准。这样可以确保所有测量都是精确且可重复的,从而使用户能够制造出可靠的零件。此工具还具有用于拒绝或修复坏部件的内置警报资产,以及自动部件跟踪。总体而言，7000是一个强大、精确、可靠的晶圆测试和计量模型。它可以快速准确地识别缺陷,并有助于确保零件的质量和可靠性,以及提高生产效率。凭借强大的软件和硬件选项，它是生产级晶圆测试和计量的理想选择。