二手 ADE / KLA / TENCOR 7000 #9088198 待售

ADE/KLA/TENCOR 7000是市场上最先进和创新的晶圆测试和计量系统之一。此设备用于一系列任务,包括生产测试、晶圆表征、缺陷检测和最短时间内的故障分析。该系统允许晶片测试和计量过程在广泛的晶片上进行，包括薄膜基板、平板显示器、微电子等。ADE 7000可用于精确测量晶圆表面特性，如平面度、轮廓和厚度。其先进的晶圆探测装置通过其精确的传感器探测技术提供了更高的接受率和准确性。该机器能够及时检测缺陷,如螺距变化、颗粒污染和表面粗糙度。此外,它还提供了全面的3D成像和组件分析以及出色的单图像分析。该工具还提供了一系列计量优势,包括改进的平面性、缺陷检测、缺陷定位和吞吐量。这些特性有助于同时对晶片样品进行一个或多个参数的高效分析。此外，资产还具有分析和测量粗糙度、电阻率和光散射的能力。此外，它还提供了三维表面成像和扫描平面度测量，以识别地形差异和缺陷热点。在功耗方面,KLA 7000的设计要求低,性能比传统的测试和计量系统快十倍。该型号还配备了直观的图形用户界面，可方便导航和操作。这种用户友好的工作流允许复杂晶圆处理操作的高效和可重复的性能。总体而言，TENCOR 7000的设计目的是以高效的方式提供精确可靠的晶圆测试和计量结果。其先进的特性和能力使其成为晶片制造商和质量保证专业人员的宝贵帮助。通过将高级分析功能与直观的用户界面和降低的功耗相结合，这款设备能够提供市场上最准确可靠的晶圆测试和计量结果。