二手 ADE / KLA / TENCOR 7000 #9239664 待售

ADE/KLA/TENCOR 7000是由ADE Technologies开发的最先进的晶圆测试和计量设备。这个通用平台设计用于测试、测量和检查直径不超过7英寸的晶片。适用于任何晶片类型，具有容纳晶体和半导体材料、SOI、MEMS等微器件基板的能力。该系统基于获得专利的模模对准技术，将全自动智能扫描阶段与高分辨率光束成像相结合，提供精确的晶圆映射和缺陷监控。通用尺寸的晶圆处理单元支持多种晶圆类型，为可靠的测试和计量提供完整的晶圆覆盖。凭借其全面的计量能力,它提供了对精细和宏特征的高度精确的测量。它的表面和非接触技术能够检测高度抛光的表面上的小缺陷，特征测量值可降至纳米范围。其他特征包括图样识别和表面变化的3D形状测量,以及彻底的污染物测试。该机具备高速溷合图像处理能力，可直接访问复杂的过程控制数据。内置计算模块支持高级缺陷分析,包括大小、计数、位置和其他参数的分析。该软件还允许将图像、视频、数据和报告快速、轻松地捕获和分发到任何屏幕或监视器。对于过程集成,该工具采用高级自动化协议进行设计,以便与某些制造网络轻松集成。其精密的软件设备资产还有助于自动化设备参数测量、故障检测和报告以及实时数据记录。ADE 7000是一种可靠的晶圆测试和计量模型，为半导体、可靠性、计量等行业提供高效可靠的结果。它的全自动智能扫描阶段和高精度光束成像,加上先进的计量功能,使其成为测试和测量直径不超过7英寸的晶片的理想选择。