二手 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645321 待售

ID: 293645321
Wafer inspection system 2006 vintage.
ADE/ASF 3220是一种晶圆测试和计量设备,用于测量半导体晶圆的物理和电气属性,包括掺杂剂浓度。该系统包含一系列专门的仪器,设计用于执行各种与晶圆质量保证相关的任务。晶圆测试和计量系统包括一个支持万维网的数据采集单元,该单元提供一个用户友好的界面和一个安全、可扩展的平台,用于从测试和计量活动中收集数据。这台机器支持Windows和Linux等多种操作系统,并能够自动调度多个测试和计量过程。该工具还包括用于数据处理和统计分析的强大软件。这个资产可以使用高速扫描电子显微镜和先进的成像技术来分析单个或多个晶片。晶圆尺寸和形状形状也是重要的特性,可以用模型的自动晶圆形状和尺寸测量工具进行测量。它还可以使用光学发光光谱法测量测试晶片中的掺杂浓度。还可以使用设备进行其他测试,如测量界面轮廓的深度剖面图和扫描电容显微镜的屈服优化。该系统还与一套软件包集成在一起,可轻松分析测试过程中收集的数据集。高级软件库提高了处理复杂分析任务的能力。该单元还支持多种图形用户界面,允许用户快速评估晶圆表面参数和复杂的设备体系结构。总体而言,ADE/KLA/TENCOR AFS 3220晶圆测试计量机提供了全面综合的测试能力。这种先进的工具使用户能够自信地测量半导体晶片的物理和电气参数,以确保最高质量。该资产提供了一个用户友好的界面和高级软件分析工具,可应用于各种不同的计数和计量任务。
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