二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9272589 待售

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T设备是一种最先进的晶圆测试和计量系统,旨在实现极致性能。该单元结合了ADE Acuity检测器和KLA WaferMapper软件平台的集成解决方桉，使得晶圆测试和综合计量结果具有更高的速度和灵活性。ADE Microsense 6033T包括一个先进的X射线探测器，能够在极短的时间内捕获分辨率高达4K的图像。这台机器具有可变曝光时间和动态范围设置，允许快速准确的成像和精确的图像处理。即使在高背景辐射的存在下，KLA Microsense 6033T的X射线探测器也能达到高达5000：1的动态范围，即使在最具挑战性的测试环境中也能捕捉到精确的细节。该工具由TENCOR WaferMapper软件提供动力，允许对表面特征、粒子计数、空隙分数和其他晶圆参数进行自动检测和测量。该软件配备了一套高级分析工具，用于快速可靠的分析，允许用户在测试和计量过程中快速识别潜在缺陷和其他问题。集成的ADE/KLA/TENCOR Acuity探测器ADE WaferMapper资产能够快速、准确地进行深层晶圆映射和模具测试。该模型允许对整个晶片进行全面覆盖，同时还提供了对单个晶片的高度详细的分析。可用于进行广泛的晶圆测试，包括快速光谱映射、X射线映射、拓扑映射以及表面粗糙度和特征检测。TENCOR Microsense 6033T设备的设计符合当今晶圆测试和计量应用的苛刻要求。凭借强大的成像能力和全面的分析工具，它是快速可靠的晶圆测试和计量的理想解决方桉。