二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9301385 待售

ID: 9301385
Wafer thickness gauge.
ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T是一种多功能、高性能的晶圆测试和计量设备,设计用于处理大规模计量应用。该系统具有先进的特点,非常适合研发、制造自动化和实验室分析。ADE Microsense 6033T配备了一个高精度的3D测量级,能够容纳直径达200毫米的晶片。该单位还可以以0.02 µm为增量测量晶片的厚度。通过稳定平台与专利晶片处理技术相结合,实现了晶片特性的高精度、快速测量。KLA Microsense 6033T采用五轴光学设计,允许在平面和扭曲基板上进行广泛的测量。该工具与许多不同类型的扫描仪、光谱仪和其他光学仪器兼容。这使资产能够测量各种特征,如晶粒尺寸、表面粗糙度、阵列保真度和电性能。凭借其提供精确、可重复测量的能力,该模型提供了性能和灵活性的无与伦比的组合。除了高质量的计量功能外,该设备还提供高级软件功能来处理复杂的数据分析任务。该系统包括一系列软件应用程序,允许用户快速准确地确定晶圆的确切特性。该单元还有一个嵌入式数据分析和报告模板库,可简化基于晶圆测量结果生成报告的过程。TENCOR Microsense 6033T提供了简单的设置和配置,因此用户可以轻松快速地开始使用计算机。该工具还包括一个易于操作的用户友好图形用户界面。此外,该资产还包括一个全面的用户手册、数据表和教程库,以方便快速、顺利地进入模型的功能。Microsense 6033T是一个创新的、高性能的晶圆测试和计量平台,适合广泛的应用。其先进的多种功能,加上易用性和卓越的精确度,使其成为实验室和自动化制造环境的理想设备。
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