二手 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9301386 待售

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T是专门为先进半导体器件制造而设计的晶圆测试和计量设备，允许用户根据可靠的结果做出快速的工程决策。该系统具有高吞吐量和精确度,扫描速度超过6000晶圆/小时。Microzense还提供完全自动化,允许操作员对常规过程和过程控制设置进行编程。该单元采用彩色共焦成像传感器，与其他同类系统相比，可实现更好的聚焦精度和更高的分辨率。它还利用顶端相机技术检测样品晶片上的表面缺陷。ADE Microsense 6033T可以检测各种类型的缺陷,如颗粒、位错、裂纹、污染物、蚀刻坑和加速寿命测试缺陷等。此外，机器通过电容传感器支持晶圆厚度测量。传感器精确检测0.5mm至25mm范围内的晶片厚度，使用户能够确保其晶片符合其规格。最后,KLA Microsense 6033T具有直观的图形用户界面,便于工具导航和处理控制。用户可以从主菜单中快速查看数据、生成报告和分析结果。此外,它还允许用户定义的过程控制设置和报告生成,以便快速处理和分析数据。总体而言，TENCOR Microsense 6033T是一种先进的晶圆测试和计量资产，旨在简化设备制造过程。它提供了一系列可能的缺陷的准确和详细的数据，确保用户的晶片质量得到维护。它的自动化设置和图形用户界面使该模型成为晶圆测试和计量的方便可靠的解决方桉。