二手 ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9193449 待售

ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600是一种先进的晶圆测试和计量设备，用于半导体测试和制造过程。它结合了一系列尖端的检测、成像和分析软件包，提供了最高质量的测试结果。该系统设计为在晶片的测试和测量中提供最高水平的可靠性和准确性，其多功能性使其能够用于多种基板上，包括硅片、复合半导体晶片和绝缘体上的复合半导体（SOI）晶片。ADE UltraScan 9600利用各种硬件和软件组件来获得尽可能最准确的结果。其晶圆测试和计量能力包括光学临界尺寸、粒子表征、应力剖面、迭加、材料组成和光学剖面测量。然后分析这些测量结果,并将其用于识别和解决任何性能问题,这些问题最终可提高产品性能并实现优化。高级映像和分析软件包使用户能够快速准确地分析其结果。该单元提供全面的缺陷检测功能，包括激光阵列和缺陷检测、静态缺陷成像和动态缺陷成像。这允许检测一系列缺陷，包括微观和纳米尺度的结构、颗粒、图样、缺陷和过程诱导的形状。光学晶片检查功能允许对整个晶片进行精确的可视化，并且使用先进的成像算法来分析两种粒径的比例及其在晶片整个表面的位置。KLA ULTRA SCAN 9600提供了与行业标准PC平台的完全兼容性,允许用户自定义其系统以满足其特定需求。该机器还可以与现有的内部设备集成，允许用户利用其现有基础设施，以实现最高的效率和准确性。软件组件提供详细的报告功能,允许用户存储和共享测试结果,并且可以将报告导出到各种第三方系统以进行进一步分析。TENCOR ULTRA SCAN 9600工具为晶圆测试和计量提供了全面的解决方桉,提供了无与伦比的准确性和可靠性。该资产具有广泛的检测、分析和成像功能,非常适合任何寻求优化其产品性能和产量的生产线。