二手 ADE / KLA / TENCOR WaferCheck 7000 #9240724 待售

ADE/KLA/TENCOR WaferCheck 7000是一种先进的晶圆测试和计量设备，为寻求高精度和效率的制造商开发。ADE WaferCheck 7000专为测试和测量晶片基板的电性能而设计，如晶片电容、电感和电阻。KLA WaferCheck 7000采用了先进的视觉系统，能够对晶片进行高效、准确的模式检查。通过同时捕获高分辨率图像和3维数据，可以测量小至1微米的特征，精度为+/-3微米。该单元能够检查标准和定制的晶圆几何形状,如阶梯式基板和平面配置。TENCOR WaferCheck 7000结合了各种电气测试和计量工具，每种工具都有一台自动校准机。该工具配备了高速AFM/STM，用于测量结电容、电感、电阻和翘曲。它有一个自动化的电气探测站，用于晶体管、二极管、无源器件和其他组件的精确电气测试。WaferCheck 7000还包括缺陷分析和屈服分析的综合分析包。这一高性能视觉资产拥有3维数据捕获，最大采样率为每秒4500万点。ADE/KLA/TENCOR WaferCheck 7000非常适合半导体制造商和需要快速、准确地检查晶圆的制造商。它提供了一个快速、可靠和可靠的模型,可以改善过程时间和产品质量,确保高效和可靠的结果。