二手 ADE / KLA / TENCOR WaferSight PWG2 #9283347 待售

ADE/KLA/TENCOR WaferSight PWG2是一种最先进的自动化晶圆测试和计量设备,旨在最大限度地提高产量并降低成本。它是一个用于成像、测量和缺陷检测解决方桉的功能强大的系统,能够以最少的人工实现快速而准确的结果。自动晶片测试和计量单元包括一台光学显微镜和一台图像采集机，用于收集晶片及其结构的光学图像，以及一台用于快速尺寸测量的激光计量工具。显微镜包括多种物镜来捕捉晶片的表面特征，包括晶粒、缺陷和其他地形特征。图像采集资产由两个激光传感器和两个光敏芯片组成，它们测量光学反射率的范围，以获得准确的数据。该模型还包括一个高级模式识别神经网络处理器，它使用一系列算法自动检查晶片的缺陷。神经网络处理器能够准确识别各种缺陷大小和位置。它还能够为每个晶片提供广泛的检验数据库，可用于评估产品产量。ADE WaferSight PWG2的激光计量设备也涵盖了广泛的临界维度，分辨率是传统光学显微镜的两倍。它还能够通过"数字复制器"功能测量难以读取的结构（如子像素特征边）的精确尺寸,该功能以亚微米精度精确测量此类特征。自动化系统极其可靠,其正常运行时间高达99.7%,确保了一致的结果,这是其整体鲁棒性的一部分。它也极易操作，需要最少的人工干预来设置、操作和监控。该软件提供了一个易于使用的图形界面，用于设置实验、查看成像和计量结果，并导出数据进行进一步分析。最后,KLA WaferSight PWG2是一个功能强大、可靠的自动晶片测试和计量单元,旨在实现例行图像采集和测量过程的自动化。其非凡的准确性，加上低成本和最小的人工操作，使得这台机器成为经济高效的测试和计量的理想解决方桉。