二手 ADVANCED MICRO PRODUCT WL-200 #9074389 待售

ID: 9074389
优质的: 2009
Backside wafer inspection system 2009 vintage.
ADVANCED MICRO PRODUCT WL-200是一种强大的晶圆测试和计量设备,专为实验室和工业用途而设计。它是一种功能强大的工具,可为用户提供广泛的灵活性和功能,帮助他们准确测量、检查和测试晶片。WL-200具有快速测量晶片厚度、表面粗糙度和整体形状的能力。它采用光学扫描和手写笔扫描两种独立的扫描技术。光学扫描用于收集晶圆表面的信息,与光源一起使用时最为准确。ADVANCED MICRO PRODUCT WL-200还具有触控笔扫描功能,可用于测量多种特性,包括表面粗糙度、表面纹理和薄膜厚度。它集成了功能强大的图像分析软件包,可以轻松比较初始图像和最终图像,以确定随着时间推移质量的任何差异或降低。此图像分析软件还包括图形显示功能,可快速研究晶圆随时间变化的形状。再者,WL-200配有铣头,用户可以执行各种制造工艺,包括等离子体蚀刻、掩蔽和切割。此外,它的高精度线性定位系统确保用户能够准确精确地测量晶圆中的小凹痕和针孔。ADVANCED MICRO PRODUCT WL-200是一个非常可靠的单元,具有强大的功能和附件。直观易用,既适合有经验的用户,也适合新手用户。此外,它还提供了广泛的自定义选项,允许用户根据其特定需求定制计算机。总体而言,WL-200是精确测量、检查和测试晶片的理想工具。它结合了几种功能强大的功能,如光学和手写笔扫描、图像分析和铣头功能,使其成为一种通用且可靠的工具。此外,其直观的设计、可定制的选项和经济实惠的价格标签确保了用户获得他们的金钱价值。
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