二手 AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite #293662145 待售

AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite是一种晶圆测试和计量设备，设计用于高速故障检测和实时表面计量。该系统提供无与伦比的精度、准确性和速度,使用户能够放心地快速检测和诊断晶片中的缺陷。Nanomap 8018 lite具有高精度xenetech操作扫描单元，提供晶圆表面的高分辨率3D映射，分辨率高达8µm。其庞大的吞吐量容量和快速的数据采集速率使用户能够在几分钟内快速扫描和测量多个晶片。该机集成了暗场、亮场、反向散射电子分析等多种测试方法，确保了晶圆缺陷的综合分析。除了晶片的高分辨率3D图外，该工具还提供了识别小划痕、污染、芯片粘合等缺陷的综合故障检测算法。算法使用机器学习模型来识别各类难以目测的缺陷。这有助于提高结果的准确性，并减少诊断故障性质的时间。此外,AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite还提供了一种先进的缺陷检测算法,该算法可以识别可能一目了然的关键缺陷和非关键缺陷。此算法能够提供有关每个检测到的缺陷（如缺陷的大小、位置和材料）的其他详细信息。这有助于确保确定和评估所有潜在缺陷,以评估对总体晶圆性能的影响。该资产还可轻松与清洁室中的其他设备和流程集成,如样品冷却、温度和压力控制或自动清洁流程。这使用户能够在短短几分钟内快速捕获其晶片的概述、验证缺陷并诊断其问题,从而确保更快、更高效的制造过程。Nanomap 8018 lite是客户在晶圆测试和计量过程中寻求速度、精度和准确性的完美解决方桉。凭借其高分辨率的晶片表面3D图，先进的缺陷检测算法，以及与其他设备和工艺的轻松集成，这一模型帮助用户减少了诊断故障的时间，从而提高了晶片的质量和性能。