二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668731 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D晶片测试和计量设备是晶片测试和计量的一种高度先进的工具。它被研究实验室、半导体制造商和工艺工程师用来精确测量和表征半导体晶片、固态存储器芯片和其他半导体器件的3维特征。AMAT VeraSEM 3D系统由多个组件组成，包括MetaSEM G4高分辨率SEM（扫描电子显微镜）低温冷却标本视图、MetaSEM磁控溅射站和高分辨率光学显微镜。SEM利用电子束技术识别被检验晶片或器件的确切特征。MetaSEM G4高分辨率SEM冷冻试样室提供了对试样温度和操作条件的精确控制。磁控管溅射站用于在成像之前将薄膜沉积到晶片上。高分辨率光学显微镜可以让用户准确检查和测量样品的地形和表面粗糙度。除了这些组件外，APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D还包括了多个先进的软件和硬件系统，如立体分析单元、自动样品准备机和模式识别软件。Stereology Analysis Tool用于自动识别晶片的特征,如晶片上特征的大小、形状和方向。自动化样品准备资产使用户能够快速准确地准备样品以进行成像。模式识别软件用于识别模式，例如晶圆上二极管或晶体管的模式。VeraSEM 3D晶圆测试和计量模型是研究实验室、半导体制造商和工艺工程师的宝贵资源。它提供了晶圆和其他半导体器件的快速、准确和可靠的测量和表征。凭借其先进的组件和软件,AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D能够识别晶圆的确切特征并快速准备成像样品。该设备是半导体器件制造和检验的重要工具.