二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #9293429 待售
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ID: 9293429
晶圆大小: 12"
优质的: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM), 12"
SMIF Type
Reticle size, 6"
Wafer of type: Notch at 6 o'clock
Stage: (3) Load ports
2002 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D是来自AMAT的新一代晶圆测试和计量解决方桉。它具有先进的设备体系结构和最先进的传感器技术,使其成为当今最强大的晶圆测试和计量解决方桉之一。AMAT VeraSEM 3D利用一个多传感器平台,该平台将三个组件的传感器-映射激光、表面分析仪和成像摄像头-与先进的系统体系结构集成在一起。映射激光器使用快速、无损的光束精确地映射晶圆表面，并为表面成像和分析提供数据。曲面分析仪提供精确的曲面表征数据,包括曲面拓扑、轮廓和粗糙度特征。最后，成像相机捕获晶片的详细表面图像，以提供关于微观结构缺陷和其他变化的宝贵数据。应用材料VeraSEM 3D利用应用材料数十年的晶圆测试和计量经验,为客户提供无与伦比的准确性和可重复性。它具有比5 nm更好地实现3-D曲面分辨率的能力，最小特征尺寸仅为40 nm。它的先进算法能够检测和测量尺寸变化小至0.1微米的特征。该单元还配备了缺陷检测和分类的专有图像分析算法，为操作员提供了快速可靠的检测和控制过程变化的方法。VeraSEM 3D旨在满足半导体及相关行业的苛刻要求。其高速数据采集和处理功能可帮助操作员快速准确地识别缺陷，并在需要时启动流程校正。该机器还提供了专用的用户友好图形用户界面，简化了晶圆检查和计量任务，并实现了完全定制。总体而言,AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D是一种功能强大且用途广泛的晶圆测试和计量解决方桉,它结合了最先进的传感技术、工具体系结构和专有算法,可提供卓越的准确性和可重复性。它使操作员能够很容易地分析晶片中的微观结构缺陷和其他变化，使它们能够快速优化过程控制和提高产量。
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