二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM #9200200 待售
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ID: 9200200
晶圆大小: 12"
优质的: 2002
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12"
2002 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM是用于晶圆测试和计量的最先进的系统。它结合了高分辨率扫描电子显微镜（SEM）和广泛的自动化测量和成像能力。这使用户能够快速、准确地测量晶圆和模具特性,例如临界尺寸、设备地形和各种电气设备特性。AMAT VeraSEM还允许用户快速表征兴奋剂配置文件,并在各种样本中对设备性能进行基准测试。APPLIED MATERIALS VeraSEM具有强大的设计和先进的功能,非常适合半导体器件开发和工艺表征。它提供了微电子元件的详细表征，能够以纳米级分辨率和精度测量电气特性。这使其成为半导体工业中设备故障分析和产量监测的重要工具。VeraSEM先进的成像能力以高分辨率SEM和电子束感应电流（EBIC）成像为特色，以实现模模比较。这有助于查明设备和单个晶体管缺陷,以便进一步分析。VerSEM还提供光谱成像功能,使用户能够进行到纳米级的化学分析。此外，它的自动化测量能力在业界首屈一指。AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM能够以其10纳米的分辨率测量最小的特性，使其成为最好的晶圆探测解决方桉之一。该系统还提供了一套高级软件工具，包括自动模式识别和缺陷分类，从而改善了许多工程师和研究人员的工作流程。总体而言，AMAT VeraSEM是一个高度通用和复杂的晶圆测试和计量系统，提供详细和准确的结果。其强大的成像和自动化测量功能使其成为半导体器件开发和工艺表征的宝贵工具。适用于故障分析、基准测试、临界尺寸测量和电性能等多种应用。
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