二手 ASML YieldStar S200 #293636291 待售

ASML YieldStar S200是为半导体工业设计的晶圆测试和计量设备。它能够处理300/200 mm晶片，是用于晶片缺陷计量和检验的手动测试系统。该单元采用高速算法对晶圆表面进行全面分析。机器的硬件结构使其能够检测和评估晶圆表面的纳米级缺陷。该工具采用各种光学技术，如：反射测量干涉测量、轮廓测量、光应力测试和数字数量反馈分析。它具有先进的自动化功能测试、统计过程控制（SPC）和诊断功能,可提供快速可靠的测试。该资产拥有创新的用户友好界面，采用高速视频图像处理器设计，提供先进的信号处理能力。它配备了先进的模型控制，包括运动控制算法、信号处理、质量控制和操作管理。该S200有一个内置的晶圆对准和校准设备。该系统还包括一个专有的测量头和一个校准阶段，以提供精确的测试结果。该单元的非接触式光学测量能力为各种具有挑战性的应用提供了准确和可重复的结果，包括晶圆映射和计量、缺陷位置分析和晶圆分析。机器的自动调整功能使其能够根据实际数据调整测量参数,以获得最佳的过程吞吐量。此外，该工具还有一个软件套件，用于质量控制、设备表征、缺陷检测和表征方面的各种应用。ASML YIREDSTAR S 200是为满足半导体行业的高需求而设计的可靠资产。它旨在提供准确、可重复的测试结果，并且能够处理各种晶圆。它能够生产当今市场所需和期望的高质量晶片。