二手 ASML YieldStar S200B #293655834 待售

ASML YieldStar S200B
ID: 293655834
Overlay measurement system.
ASML YieldStar S200B是由半导体行业领导者ASML制造的先进晶圆测试和计量设备。该系统专为设备制造商和亚晶圆厂工艺表征而设计,有助于优化最新半导体设计的产量、降低成本和提高性能。该装置能够对直径达200毫米的晶片进行快速的室温测试,同时具有高精度和可重复性,从而使用户能够调整其工艺控制参数以获得最佳结果。YieldStar S200B具有可靠的200 mm x 200 mm光学分级表和先进的晶圆计量扫描算法。该机还配有高精度快门轮和先进光学器件,用于精确测量半导体晶圆的边到边厚度和平均轮廓。可重复精度在1 µm/minute以内的高精度运动控制级允许在亚微米晶圆过程中精确操作。ASML YieldStar S200B还具有一个直观的用户界面,用于优化控制和监控流程性能。该工具可与各种成像技术配合使用,包括各种校准模型,允许根据用户的应用需求进行定制。全面的AlignCam软件进一步提高了计量资产的准确性和可靠性。YieldStar S200B是晶片测试和计量的绝佳选择,因为它可以快速检测晶片链路高度和表面粗糙度的微小变化。准确性、多功能性和可重复性的结合使得ASML YieldStar S200B组装和集成当今高密度集成电路的诱人选择。该模型已被证明可以加快生产周期,提高信号完整性,提高工艺的整体可靠性。
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