二手 ATI WIND AWIS-1200 #293654341 待售

ATI WIND AWIS-1200是一种晶片测试和计量设备,用于识别和测量晶片尺寸不超过300 mm的半导体结构、模式和缺陷。在任何一种环境条件下，它对检测缺陷和测量零件的尺寸、形状和结构都具有可靠的可靠性。AWIS-1200具有12Mega像素CMOS传感器、实时数字信号处理、高速图像采集、数字图像信号处理和三级智能检测系统。12 Mega Pixel CMOS传感器可实现高分辨率图像,高速捕获晶圆上的详细图样。实时数字信号处理有助于减少光噪声、带状和其他类型的像差。这是可能的，因为各种信号处理功能被集成到具有高度集成线路和像素缓冲区的单个芯片中。数字图像信号处理的优点包括自动增益和自动快门控制、像素响应不均匀校正和伽马校正。这些有助于改善图像质量并显着减少检查时间。该AWIS-1200能够以很高的精度和速度测量亚微米图桉的宽度和长度。这是由它的3级检查单元完成的，该单元由显微镜、干涉仪、椭圆仪和光谱仪组成。该显微镜用于评估一般表面、用于测量高精度特征的干涉仪、用于测量表面地形和薄膜的椭圆仪以及用于材料光学分析的光谱仪。这允许对零件进行准确的评估,并允许机器识别晶片上的缺陷类型,如矿坑、沟槽、台阶和其他缺陷。该AWIS-1200具有直观和用户友好的界面以及用于控制和分析测量的高度先进的软件。该软件专门为包括显微镜、干涉仪、光谱仪和椭圆仪设计。它既适合先进用户，也适合新手用户，能够快速准确地测量即使是最复杂结构的特性。该软件还能够自动收集和处理数据，从而提高测量的效率和准确性。总体而言，WIND AWIS-1200是一个极好的晶片测试和计量工具，提供高精度分析和缺陷检测，从晶片到300 mm的大小。其先进的特性和灵活性使其成为各种应用程序的理想选择。