二手 AXIC 100 II #62113 待售

製造商
AXIC
模型
100 II
ID: 62113
晶圆大小: 8"
XRF thin film measurement system, 8" WDX and EDS spectrometers Configured for Wt% P in PSG.
AXIC 100 II是一种先进的晶圆测试和计量设备,旨在提供强大的晶圆上测试能力。该系统采用高性能探测和计量技术,对电气和物理参数进行高精度、准确和可靠的测量,使用户能够获得最佳结果。它非常适合各种类型的晶圆测试,如晶圆映射、缺陷测量和设备表征,使用户能够开发出可靠高效的产品。100 II通过其集成的TruSem模块提供各种参数的精确和快速测量,该模块具有非常高分辨率的3D轮廓扫描仪和全自动的本地计量单元。TruSem使用户能够轻松测量临界物理特性,如表面粗糙度、蚀刻深度、间距和浮雕。这台机器还包括一套强大的高级软件工具,允许用户创建复杂的配置文件并执行更详细的测量。AXIC 100 II还包括一个集成的参数化探测平台,提供超灵敏电容测量和快速开尔文测试能力。这使用户能够准确、快速、轻松地测量材料和设备的物理和电气性能。该工具还配备了先进的模模迭加技术,有助于优化设备迭加性能。最后,用户友好、直观的软件环境让用户可以轻松配置资产,并获得更快、准确的结果。此外,100 II的图形界面被很好的采用,使模型非常容易为用户导航。AXIC 100 II具有先进技术和可靠性能的强大组合,是任何晶圆测试和计量需求的绝佳选择。
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