二手BRUKER(晶圆测试、计量)待售

布鲁克是晶圆测试和计量系统的领先制造商。它们提供了一系列具有先进特性和优点的类似物，可用于精确高效的晶圆测试。一种流行的模型是NP Flex系统，它为薄膜表征提供无损检测。该系统使用光谱椭圆偏振法来测量像薄膜厚度、折射率和粗糙度这样的参数。它提供高速数据采集和全面的分析能力，使其非常适合研发目的。另一个值得注意的系统是轮廓GT-X8，它是一种通用的表面计量光学剖面仪。采用白光干涉法测量亚纳米分辨率的地表地形。轮廓GT-X8可以精确测量薄膜厚度、台阶高度、表面粗糙度和其他表面特征,使其适用于包括半导体制造、MEMS设备和光学表面在内的广泛应用。对于深紫外光刻，布鲁克提供了DUVX210的计量系统。该工具为先进的半导体制造工艺提供了关键尺寸和迭加计量。它使用成像技术和先进算法,以卓越的精度测量关键尺寸和迭加精度,从而实现更严格的过程控制和提高设备性能。布鲁克的晶圆测试和计量系统因其准确性、可靠性和先进特性而备受推崇。这些系统通过实现质量控制、工艺优化和产量提升，在半导体制造、研究和开发中发挥着至关重要的作用。Bruker产品种类繁多,满足了半导体行业的多样化需求。