二手 BRUKER-AXS Dektak XT #9204115 待售

BRUKER-AXS Dektak XT是为各种应用而设计的先进晶圆测试和计量设备。该系统能够分析2"到8"的晶片厚度、平滑度、粗糙度、电导率、介电击穿和其他表面测量。BRUKER-AXS DEKTAKXT利用自动化平台提供了获得专利的恒力模式,可确保在目标力的0.25%内进行一致和可重复的测量。综合视觉单元对晶片进行检查，确保其在分析前后水平，确保结果的准确性。机器可以配置各种选项，包括光学显微镜、自动晶圆处理和晶圆映射功能。Dektak XT工具具有直观的图形用户界面（GUI）,易于操作和自动化。它还包括PC上的高级数据处理、图形和报告功能。基于PC的软件易于使用,并提供全面的分析功能,包括颠簸、颗粒和涂层的分析。此外,DEKTAKXT的ANOVA、FFT、3D绘图和振动补偿技术提供了广泛的测量功能。ANOVA技术可用于分析晶片边缘轮廓，而FFT技术则用于分析光谱数据。3 D绘图技术用于晶圆形状的评估，振动补偿技术允许精确测量，即使晶圆振动也是如此。该资产非常适合广泛的晶圆测试和计量应用,如应力测试、缺陷分析和过程控制。BRUKER-AXS Dektak XT也适合质量控制和研发使用。总之，BRUKER-AXS DEKTAKXT是一种先进的晶圆测试和计量模型，设计用于多种应用。该设备采用创新技术,具有用户友好的GUI,具有广泛的高级测量、分析和处理功能。