二手 BRUKER-AXS Dektak XT #9237895 待售

BRUKER-AXS Dektak XT是一种高精度、多用途的晶圆测试和计量设备，设计用于测量包括半导体晶圆和电路板在内的各种表面的地形和轮廓。这个晶圆测试和计量系统配备了一个高分辨率、低噪声共焦拉曼成像模块，能够在组成、晶体学取向和厚度分布等方面分析广泛的样品。显微镜具有自动Z轴聚焦装置，用于获取分辨率高达5nm的样品的地形图像。此外,它还支持各种样品定位设备,包括电动x-y-z级和旋转级,为精确的样品探测提供了灵活性和准确性。BRUKER-AXS DEKTAKXT还具有多种表面分析技术，如轮廓和台阶测量、表面粗糙度测量、峰值/槽定、3D轮廓折射和单层分析。它配备了广泛的探针，包括纳米机械探测机、表面剖面仪、光学剖面仪、测量表面力特性的原子力显微镜（AFM）和光谱反射仪。此外，它还支持用于非接触表面表征的集成干涉光学显微镜，提供高达实际尺寸和亚微米分辨率200倍的样品放大倍数。Dektak XT还提供多种测量功能,例如特征尺寸测量、临界尺寸确定、线宽测量、中心线测量和粒度/表面光洁度测量。此外,此晶圆测试和计量学工具附带多个软件包,例如AnalYS软件,它使您能够同时测量3D和2D示例曲面、远程技术控制软件包以及点过滤器库。总体而言,DEKTAKXT是一种先进而可靠的晶圆测试和计量资产,使研究人员和工程师能够准确测量各种曲面的地形和轮廓。其最先进的技术结合灵活的样本定位设备和专门的软件包,为所有类型的表面分析提供了最高水平的准确性和可重复性。