二手BRUKER / SLOAN DEKTAK(晶圆测试、计量)待售

BRUKER/SLOAN DEKTAK提供的晶圆测试和计量设备在半导体行业备受推崇。这些系统为晶圆表面粗糙度和薄膜厚度提供了全面的分析和测量解决方桉。BRUKER/SLOAN DEKTAK单元的一个显着优势是其高精度和精确度。这些机器利用手写笔轮廓测量和白光干涉测量等先进技术来捕捉晶圆表面的精确测量。这种准确度保证了过程控制和质量保证的可靠数据。BRUKER/SLOAN DEKTAK提供了一系列的模型来满足不同的需求。例如,NT 3300是一个通用系统,它能够以亚纳米分辨率对高度、粗糙度和薄膜厚度进行非接触式测量。另一方面,XT系列为薄膜、步高和其他临界测量提供了高级轮廓测量。IIA系统设计用于高速串联晶圆检测，为生产环境提供实时分析。这些工具在各个行业都有应用，包括半导体制造、MEMS制造和材料研究。它们提供快速、准确的测量,帮助公司简化流程,提高产品产量,并确保晶片的完整性。BRUKER/SLOAN DEKTAK的晶圆测试和计量资产是半导体行业质量控制和工艺优化的可信工具。