二手 CAMECA Lexfab 300 #9151709 待售

ID: 9151709
晶圆大小: 12"
优质的: 2010
Shallow probe metrology system, 12" 2010 vintage.
CAMECA Lexfab 300是一种先进的晶圆测试和计量设备,设计用于分析各种晶圆模式、结构和材料。系统直观的软件引导工作流使晶圆测试和计量能够快速、准确、轻松地执行。CAMECA LEXFAB300是一个可扩展的高性能单元,具有从基本计量到纳米尺度的晶圆分析能力。这台机器配备了多种工具来监控和测量晶片,如光学成像、X射线成像、暗场和明场显微镜、差分干涉对比度显微镜以及主板扫描功能。该工具能够检测小到150纳米大小的特征。LEXFAB-300的一个主要特点是其4轴对齐资产。模型的机动对齐表可以精确设置和调整视角,允许在不同方向进行精确的图像分析和晶圆测试。这种灵活性使用户能够用不同角度的不同芯片和晶片进行各种各样的实验。Lexfab 300设计方便用户,使用户可以快速了解设备的操作情况。该系统还包括多种软件包和分析工具,方便地分析磁盘图像,包括缺陷识别、特征检测以及针对某些IC的特殊对策。凭借这些特点,CAMECA LEXFAB-300是监测和检查晶片以及提供有价值的生产计量数据的绝佳解决方桉。在安全维护方面,该单位包括了一系列安全功能,以确保人员的保护,包括紧急开关和自动安全关闭功能。此外,CAMECA还实施了一系列维护程序,以确保LEXFAB300台机器保持峰值状态,并始终提供准确的数据。CAMECA Lexfab 300被半导体和显示器行业的领先制造商广泛采用,他们正在寻找一种可靠且易于使用的晶圆测试和计量工具。CAMECA LEXFAB300凭借其全面的功能和广泛的测试能力,非常适合希望确保晶片准确性和可靠性的公司。
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