二手 CDE RESMAP 273 #293758340 待售

CDE RESMAP 273是一种功能强大、用途广泛的晶圆测试和计量设备，设计用于半导体制造应用。它具有创新的设计，在晶圆测试和计量方面取得了许多技术进步。该系统具有两个独立的测试和测量区域,可实现并发操作和增加吞吐量。该单元可与包括光学、电阻率和自动缺陷检测系统在内的多种测试和测量系统集成。RESMAP 273配备了一套全面的测试和测量能力，以确保对各种设备参数进行高效和可靠的测量。该机器设计用于处理所有常见的计量要求，并且可以根据特定应用程序的需要量身定制。该工具包括光源、光学、探测器以及多个测试头和测量站。资产提供精确的临界尺寸测量、表面地形分析、晶圆应力和参数数据、2D/3D轮廓、小特征测量和分析以及缺陷分析。该型号配备了易于使用的图形用户界面（GUI）,可控制设备并启用高级命令。CDE RESMAP 273还包括实时数据采集、分析和报告功能。该系统支持广泛的高级测试程序，包括数据处理和分析、缺陷检测和重迭测量。该设备具有强大的开放式体系结构,由专有硬件和软件提供支持,可实现快速、准确的测试和测量。该设置还允许在多个系统之间快速传输数据,如中央主机服务器和联网工作站,可以在现场进行远程监控。RESMAP 273旨在满足最严格的测试和测量要求,是一种高度通用、用户友好的半导体制造应用测试和计量解决方桉。该机具有直观的设置、快速的数据采集和快速的处理，以最大限度地提高性能和吞吐量。