二手 CDE RESMAP 273 #293778134 待售

CDE RESMAP 273是一种最先进的晶圆测试和计量设备，设计用于分析和评估电子材料和设备。系统同时对任意数量的样本执行多个测试和计量操作。它适用于直径小于8英寸的晶片,并且能够测试低至32 nm的特性。该装置采用专门的四轴刀架，安装在一对弯曲磁铁粒子束系统上。此设置可确保在检查和测量样品时具有高分辨率和准确性。粒子束系统装有探测器、透镜和镜子等光学元件，可用于进行X射线荧光、衍射和散射测试。光学元件配有电动控制机，使操作员能够轻松调整激光功率、光束对准等仪器参数。此外,电动工具还具有一个功能,使其能够省略最常用的现货尺寸校正。资产还有一套计量操作工具。这些功能包括纳米扫描（低于100 nm分辨率）、光谱学（用于测量光吸收和机械应力）和显微镜成像（用于检测地形特征）。测试和计量操作的结果可以通过随附的软件进行分析。此软件提供数值和图形分析以及数据导出功能,使用户能够进一步评估其样本。它具有直观的用户界面，易于学习曲线，确保用户能够快速学习并熟练掌握模型操作。此外，大多数实验室很容易获得这种设备，因为它只需要极少的维护。总体而言，RESMAP 273是为研究实验室设计的先进晶圆测试和计量系统。其精密的操作工具和精确的分析能力使其成为详细分析和评估电子材料和设备的完美工具。