二手 CHAPMAN MP2000+ #9394595 待售

CHAPMAN MP2000+
ID: 9394595
Surface profilers.
CHAPMAN MP 2000+是CHAPMAN Engineering开发的一种先进的计量和晶圆测试设备,用于半导体行业的广泛应用,如晶圆测试、样品监测和实验室研究。该系统提供了一种高效的高分辨率解决方桉,用于测量半导体晶片在制造过程中的特性。该单元由一个完全自动化的阶段结合复杂的硬件和软件组件组成。它还包括用于精确图像捕获的高分辨率CCD传感器。该机器具有强大的图像处理功能,可提供卓越的测试结果。它配备了高速电动晶片卡盘,以确保精确的样本映射、对准和对准。除了这些特性之外,该工具还得益于先进的软件算法,以允许对多个样本类型进行精确的计量和晶圆测试。MP 2000+的设计是为了抵御困难的环境条件,包括温度波动、湿度和空气污染。这确保了在现场和生产环境中的可靠采样。资产的大工作区域使得它非常适合甚至最苛刻的晶圆测试要求。该模型配备了先进的扫描软件,其中包括3 D边缘检测、粒子图像分析功能以及强大的统计分析工具。这允许对数据进行详细分析,以及生成记录晶圆性能的报告。该软件还为用户提供了全面的图形输出,可以定制为包括用户自己的分析或后处理所获得的图形结果。CHAPMAN MP 2000+是广泛的晶圆测试应用的理想解决方桉,因为它结合了可靠性、准确性和灵活性。高分辨率CCD传感器和强大的图像处理能力使其成为晶圆测试中需要高度精度的应用的理想设备。此外,它的全自动阶段和软件算法提供高吞吐量和灵活性,这是经常需要的苛刻晶圆测试要求。
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