二手 DAVIDSON D 665-107 #293610069 待售

DAVIDSON D 665-107是一种晶圆测试和计量设备，用于测量半导体器件参数。它提供模具、晶片级以及有源和无源元件的自动测量，这些元件在一系列材料中如硅、和砷化的。它具有自动边缘检测和内置的几何库,具有一系列测试点。该系统还集成了光学监控单元，使其能够测量尺寸并进行自动放置优化。该机设计为工作范围广泛的半导体工艺和测量条件，具有低噪声和热管理，以减少损失和不需要的寄生加热。它为大、小器件的比较提供了高速晶圆映射。该工具使用波长散射计（SWS）晶圆计量资产来获取每个设备的位置和形状，以及材料参数和全局图样。该模型包括用于轮廓测量的双轴扫描成像和相移白光干涉测量（PSWLI），使其能够测量局部特征数据、轮廓数据和整体特征等多种参数。它还提供了对设备参数（如表面粗糙度、轮廓误差和材料属性）的高级分析。该设备专为自动晶片处理而设计，可与其他工具和设备集成，包括自动prober和handler、自动探针移动和打印解决方桉。它提供非接触晶圆检测和超精度测量功能。该系统与特定的软件包结合在一起,提供不同的连接解决方桉。D 665-107也可用于快速原型设计和快速开发，精度和分辨率都很高。它配备了几个嵌入式系统，包括DRAM、闪存和特定于应用程序的逻辑，以确保高效运行。该设备得益于智能控制技术,即使在具有挑战性的环境中也能确保可靠和快速的结果。凭借其专门的计量能力，该机是一种功能强大且可靠的工具，用于以最高的精度精确测量各种材料。