二手 DEKTAK 3ST #293644228 待售

DEKTAK 3ST晶片测试和计量设备是世界上最可靠、最精确的测量和检查表面的平台。该系统能够快速、精确地扫描晶片进行三维计量，数据精度高达0.5nm。它采用坚固耐用的设计,旨在超越市场上的其他系统并超越其他系统。该装置配有一个5轴探头，可在12毫米范围内提供高达0.2µm的动态位置精度。它用于从通过多个不同扫描点收集的每个曲面收集数据。然后将每个扫描点表示为存储在机器中用于计量分析的数据点数组。该工具还具有直观的软件，允许用户实时查看数据，这有助于优化测试和检查过程。该资产使用户能够测量多个不同的参数,如曲面平面度、线宽/间距、轮廓和步进高度。然后使用这些测量值报告划痕、颗粒、针孔和随机表面缺陷等缺陷。用户还可以使用Otsu和Deflaker方法等突出的缺陷检测算法执行高级曲面分析。3ST晶片测试和计量模型是检查和分析各种晶片表面的通用工具。它在短时间内提供准确、可靠的数据，使用户能够快速识别缺陷和其他违规行为。这种设备是任何希望精确测量晶片表面性能的用户的理想选择。