二手 DNS / DAINIPPON VM-2010 #9158763 待售

DNS/DAINIPPON VM-2010是一种先进的晶圆测试和计量工具，设计用于测量半导体晶圆的精确度和精确度。它为高速阵列测量提供了一个完全自动化的解决方桉,可确保更高的吞吐量和更高的准确性。该单元由几个单独校准的模块组成，每个模块都有一个特定的测量操作：计量、模具拾取和晶圆传输。全自动晶片测试和计量系统首先通过其三维（3D）扫描探针进行测量，使用激光束进行表征。然后将被测量的样品移动到模具拾取模块，以便拾取模具并将其连接到晶片载体上。最后，它将正在处理的样品传送到计量单位。该计量单元评估晶片上的信号信息的平坦度和缺陷。所有这些模块都是完全自动化的，以方便操作员，并且能够实现精确的重复性和重复性。该设备设计得极其灵活和坚固，使用户能够快速适应不断变化的条件。该系统的模块化使得它能够方便地适应各种各样的测量，例如用于微光刻检查或缺陷检查。该工具还能够提供快速和可靠的测量，而不会影响产品的完整性，这意味着它也可用于各种基板上的测量，包括那些敏感或容易失真的基板。该设备在Windows XP上运行,并提供广泛的功能,例如用户友好的图形界面、用于进行多种测量的泵丝模式、广泛的适用性、快速的软件升级以及通过各种接口的连接。该机器提供全面和灵活的选项范围，以满足任何半导体晶圆测试和计量需求。此外,该工具还能够提供极高的工具分辨率和准确性,这要归功于专有的"主动激励技术",该技术可以在扫描和二值化数据时主动降低噪音。这项技术还可以提高探测灵敏度和可重复性，确保在晶圆测试和计量应用中能够实现非常高的产量。总体而言,DNS VM-2010是一种高度复杂且面向精确的工具,它为各种类型的晶圆测试和计量需求提供了一个多功能的自动化解决方桉。其先进的3D扫描探针和主动动机技术可实现快速、高精度的测量,具有出色的重复性,使其成为各种测试和计量过程的可靠且经济高效的解决方桉。