二手 DNS / DAINIPPON VM-2010 #9399111 待售

DNS / DAINIPPON VM-2010
ID: 9399111
Thickness measurement system.
DNS/DAINIPPON VM-2010是为半导体制造商设计的晶圆测试和计量设备。它使用复杂的光学、电气和化学测量来评估一系列半导体,包括晶体管、触点和互连。系统执行各种测试,包括晶圆参数测量、晶圆级测试、晶圆表面计量和缺陷检查。对于参数测量,该单元采用相移干涉法、亮场成像和电压技术的组合。可以在不接触晶片的情况下进行电气测量,这样就可以获得非常精确的结果。这台机器非常精确,可以进行定性和定量分析。能够测量和记录定性参数,如颜色和纹理,使制造商能够全面了解其产品的特点。对于晶圆表面计量,DNS VM-2010使用自动采样工具来测量晶圆的地形参数。这允许表面粗糙度、倾斜测量和线宽。该资产能够检测晶圆表面的缺陷,甚至缺陷小到一微米的宽度。该模型还能够进行晶圆级测试,包括测量晶圆上的整个结构并对其进行表征。这是通过将结构暴露于化学和电气协议,然后测量诸如电流密度、状态密度和时间常数等参数来完成的。DAINIPPON VM 2010为制造商提供了广泛的测试和测量。它提供了高度准确、可靠的数据,可用于就半导体产品的设计和制造做出明智的决策。该设备还为需要在快节奏行业中保持竞争力的制造商提供了一种低成本解决方桉。
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