二手 E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q #9234105 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q是一种高度敏感和精确的晶圆测试和计量设备，专门设计用于半导体工艺工程。它具有坚固的设计和黑色光泽、用户界面的显示模块以及带有8个轴/传感器以测试/测量不同参数的层静电计系统。此外，它被设计为为广泛的晶圆测试和计量测量提供非凡的准确性和可重复性。METROLOGY MX 203-8-37-Q能够测试8英寸晶圆规模的集成电路。它包括复杂的软件程序，允许用户分析和管理各种不同的晶片、基板和二极管，以及程序特定的参数。除了测试能力外，METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q还提供一系列强大的校准、诊断和分析功能。它有一个多轴反馈单元，校准分辨率为1000 A/D步长。这样可确保各种不同测量的最佳准确性和可重复性。METROLOGY MX 203-8-37-Q旨在满足半导体行业的严格要求。它采用耐用、无反射的铝制机身，保护敏感部件免受环境影响。它还能够处理25°C至80°C的温度变化，以及变化的振动水平。此外,为了确保最大程度的安全和保护,它还配备了多种内置安全系统,如灭火装置和电磁干扰滤波器,以限制EMC辐射。总体而言，E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q是一种高效、精确、可靠的晶圆测试和计量机器，旨在提供可靠的结果。其坚固的结构、内置的安全系统和一系列多用途的功能使其成为各种半导体工艺工程应用的理想选择。