二手 E+H METROLOGY MX203 #9227878 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX203是一种最先进的晶圆测试和计量设备,旨在提供快速准确的晶圆测量。它利用独特的光学和物理技术组合，在无损过程中获得晶圆厚度、曲率半径、倾斜和其他特性的精确测量。该系统采用了一种专有设计，其中包括一个两轴电动测角仪（作为定位晶圆的一种手段）和一个光学传感器（用于捕获和记录测量结果）。光学传感器由一对垂直和水平激光器组成，测量晶圆的高度轮廓和曲率。这提供了一种无损、准确和可重复的方法来测量晶圆的形状和地形。为确保测量的准确性，该单元配备了使用参考样本的内置校准程序。这允许精确的测量结果，无论环境条件如何。E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX 203还有一个功能强大的内置计量软件，处理光学传感器捕获的数据，并对结果进行实时分析和图形表示。这允许用户以受控和互动的方式监控晶片的特性。此外，E+H计量MX203配有电动真空样品支架，有助于在测量过程中固定晶片，避免错位，确保结果的最高精度和可靠性。机器还包含内置功能,可帮助减少测量所需的时间,并提供快速设置过程。总体而言，E+H METROLOGY MX 203是一种先进的晶圆测试和计量工具，提供精确、无损和可重复的晶圆特性测量。它是一个功能强大的计量软件，集成真空样品支架和校准程序，使用户能够快速准确地测量晶圆的参数。