二手 E+H METROLOGY MX608 #293659180 待售

E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX608是专门为晶圆测试和计量设计的单元。该装置采用直接成像技术，激光照射需要测试的区域。然后由CCD相机处理图像，允许操作员分析结果。MX608具有多种特性，非常适合晶圆计量。它具有高分辨率的照相机和光学设备，可以进行精确的测量和分析。单位还可以测量厚度、经度、平坦度等各种特征。此外,该单元还能够测量晶片的表面光洁度以及任何缺陷。E+H METROLOGY MX608是晶圆计量的有力工具。它有一个自动化的采集和分析系统，使它能够快速分析和处理数据。该单元可编程为检测、测量和报告广泛的表面质量和缺陷。此外，该单元还能够生成详细的报告，从而对晶圆进行全面分析。MX608也有能力在远处或接触时测量。这为分析晶圆数据提供了最佳的灵活性和准确性。此外,该单元还能够与任何外部系统进行接口,以进行进一步分析和数据处理。该装置也是为最高效率和生产力而设计的。它可以使用易于使用的触摸屏界面操作，使操作员能够快速准确地设置设备并管理任何处理作业。扩展的自动化机器允许对作业进行进一步的自动化或远程控制。综上所述，E+H METROLOGY E+H METROLOGY MX608是专门为晶圆测试和计量设计的强大而高效的单元。它具有高分辨率光学、自动采集和分析、自动化作业管理以及与外部系统接口的能力等多种功能。此外，它在测量晶片时提供了最大的灵活性和效率。总的来说，这个单元是任何晶圆计量应用的有力工具。