二手 FEI 300 #9386526 待售

FEI 300是由全球领先的电子显微镜和光刻设备创新者之一FEI公司制造的晶圆测试和计量设备。该系统是公司的顶级计量单元，旨在对纳米尺度晶圆样品的物理和电气特性进行精确测量。该机配备在介电、半导体和磁性材料上执行广泛的测试程序和分析过程。300提供了完整的计量技术，包括高分辨率的电气测量、样品的物理/化学分析、扫描和成像能力以及各种其他过程。它具有强大的5轴级，能够在1纳米精度内精确定位样品。舞台还具有倾斜补偿功能，允许它自由移动而不改变样品的方向。该工具配备了广泛的成像工具，如光学显微镜、电子显微镜、X射线衍射显微镜等。这些使用户能够非常详细地研究样品的物理结构。FEI 300还能够生成样品表面的精确地形图，即使在纳米水平。该资产还包括一个功能强大的软件套件，它允许用户对他们的样本进行非常详细的分析。此套件包括许多模板和向导,使用户能够准确测量样品中的各种参数,从表面粗糙度和薄膜厚度到电气特性。该软件还包括大量的资料库，使用户能够比较和对比样本以及比较结果。300是一种非常强大的工具，可用于精确测量和分析各种材料。该模型强大的仪器和强大的软件功能使其成为科学家和工程师以前所未有的精确度和精确度来测量和分析晶圆样品特性的宝贵工具。这使得它成为任何现代实验室或工程师武器库的重要工具。