二手 FILMETRICS F20 #293793248 待售

ID: 293793248
Thickness measurement system M/N: 205-0121 Thickness range: 15 nm to 70 m Wavelength range: 380 to 1050 nm No microscope.
FILMETRICS F20是为提高晶圆测试过程的准确性和速度而开发的集成晶圆测试和计量设备。它是广泛的晶圆测试应用的理想解决方桉,包括半导体、MEMS和光学行业的应用。FILMETRICS F 20的核心是其强大而直观的光学剖面仪和成像系统。它具有获得专利的光提取技术,能够以微秒精度进行独特的观测。除了收集尺寸测量和表面粗糙度外,该单元还可以在多个轴上捕获整个晶圆或单个模具的图像。利用先进的分析软件算法增强捕获的图像。更重要的是,F20的光学剖面仪可以检测晶片中物质层的存在,分辨率高达20nm。这使得检测晶圆表面微小缺陷的准确性达到前所未有的水平。此外,该机利用新设计的200毫米级快速完成非接触参数测量和自动扫描过程。这增强了生产输出,使用户能够比以前认为的更快地诊断和优化其产品。F 20强大的作业编程软件简化了晶圆编程和实施测试的过程。该工具也是高度可配置的,可以编程为扫描广泛的晶圆测试,如应力测试、反射率测试等等。此外,它还被设计为尽量减少尘埃和其他异物等环境影响,以及振动效应。总体而言,FILMETRICS F 20提供了一个强大且易于使用的集成晶圆测试和计量资产,能够在各种测试和应用中提供准确、快速和可靠的结果。其独特的特性和卓越的性能使其成为任何测试和计量需求的理想选择。
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