二手 FILMETRICS F20 #9316076 待售

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ID: 9316076
Thin film analyzer Regulated tungsten-halogen lamp Wavelength range: 400 nm to 1,000 nm 15nm - 70µm 380 - 1050nm Light spot size: ~1.5 mm Film thickness range: 150 A to 50 µm Film thickness range for measuring N and K: 1000 A to 5 µm Accuracy: >0.4% / 10 A Precision: 1 A Stability: 0.7 A.
FILMETRICS F 20高速、高精度晶圆测试和计量系统提供了一套全面的测试,能够在广泛的应用中进行精确的测量。FILMETRICS F 20利用高频共聚焦成像精确测量材料的三维物理性质,使得能够对薄膜厚度、组成和其他光学参数等应用进行精确分析。先进的软硬件组合使得从半导体晶片到洁净室光学器件,对任何样品表面上的多个区域进行快速测量,可以快速准确地进行分析。F20采用功能强大的高速成像扫描仪模块,该模块针对速度、精度和准确性进行了优化。其3D功能为步高和倾斜角的测量提供了定量的映射级精度。F 20的高精度,加上其业界领先的扫描速度,使其成为实时过程控制的理想选择,允许对任何过程步骤进行极精确的分析。FILMETRICS F20的高分辨率、三维地形图是通过组合高分辨率垂直图像和每个样本区域的低分辨率横向图像创建的。软件不断比较整个扫描过程中收集的数据点,并提供反馈,用于相应调整参数,以便在与标准值进行比较时保持最佳设置。同时,还会自动提取和突出显示阶梯和边缘轮廓等线性特征,从而提供在像素级别上直观且快速查看的曲面表示。除了Imaging Scanner模块外,FILMETRICS F 20还配备了功能强大的Integrated Measurement Platform,由Optics&Fluorescence Analyzer、Advanced Spectrophotometer和Image Analys&Calibration模块等其他几个模块组成。除了提供广泛的样品测试功能外,Advanced Spectrophotometer还为电致发光、OLED表征和CdSe/ZnO薄膜测量等应用提供了强大的数据分析。该系统还配备了高度精确的校准力学,使其能够在任何环境中运行,从洁净室到实验室。F20是一种支持晶圆测试和计量技术,它彻底改变了整个行业。凭借强大的硬件和直观的软件,系统提供了前所未有的性能和准确性。
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