二手 FORMULA HF3 #9101877 待售

FORMUL HF3是来自Nanometrics的集成晶圆测试和计量设备，设计用于量化半导体晶圆、模具和电阻结构的电气、材料和表面特性。该系统提供了用于分析、监视和优化产品开发、过程控制以及产量分析的高级功能。HF3将光学和电容扫描与测试和计量算法相结合，以测量广泛的参数，包括氧化、薄膜厚度、晶格间距、晶粒结构、掺杂浓度等等。这项先进的技术可以检测到物理属性的非常小的变化,从而能够快速可靠地评估过程和产品性能。该单元的测量非常精确,在8个样本模板中的行业领先精度为0.3nm。它还提供了各种测试单元和探测器,使用户能够为作业选择最佳工具。机器的高级自动化功能和直观的用户界面有助于最小化设置和容易出错的过程,从而实现可靠和高效的测试。该工具还具有强大的可视化和数据管理工具,为导入、可视化和比较数据提供了一个中心点。这一先进软件还有助于报告和分析各种技术的测量数据,包括霍尔效应、蚀刻速率、增长率、固有属性分析等。FORMULA HF3是寻求高性能和可靠的晶圆和半导体生产测试和计量解决方桉的客户的理想解决方桉。它的后盾是经验丰富的支持团队,后盾是持久保修,轻松维护其作为业界最值得信赖的系统之一的声誉。该资产旨在在晶片、封装和设备上提供快速、准确和可靠的结果,从而确保高产量和优化生产。