二手 FRT MicroProf 200 #9219844 待售

FRT MicroProf 200为晶片提供精确、高分辨率的表面地形、纹理和其他表面特征测量。该设备采用自动XY级,具有精确的空气轴承,以实现平稳运动。随附的高分辨率显微镜透镜可确保精确测量到亚微米级，且失真最小。该系统设计用于晶圆测试和计量，允许对光掩模和晶圆表面进行精确的视觉检查。集成软件支持从各种视频源和激光扫描仪获取数据,并具有强大的分析和成像功能。这个单元配备了自动化的XY级，结合了四轮驱动机构以平滑移动，以及精确定位和跟踪的精密空气轴承。该阶段被编程为自动将样本移动到预定义的放大倍率、曝光设置等，从而无需人工干预。它还包括一个高分辨率显微镜透镜，以精确地捕捉样品表面更精细的细节。此外,MicroProf 200还配备了功能强大的软件包,可用于数据采集、分析和成像。数据可以从各种视频来源获取，包括CCD和CMOS传感器，以及激光扫描仪。该软件具有对多达100个通道的多通道分析功能,可快速分析数据。它还具有强大的图像处理算法来获得清晰准确的样本图像。FRT MicroProf 200能够精确可靠地测量晶片上的表面地形、纹理和其他表面特征。该机设计用于生产环境，结构耐用，操作可靠，维护方便。其通用软件使其成为光掩模和晶片测量和检测的理想选择，为晶片生产行业提供了高效、准确的解决方桉。