二手 FRT MicroProf CWL300 #9173791 待售

FRT MicroProf CWL300是晶圆测试和计量的高端设备或设备。它配备了强大的成像和测量技术，使其能够检测到甚至最微妙的晶圆厚度、表面平坦度等特性的变化。该系统包含一台具有5x-50 x变焦能力的光学显微镜，用于测量平坦度和表面特性，一台用于测量厚度和曲率的结构化光表面剖面仪，以及用于高分辨率检查的图像采集单元。MicroProf CWL300提供自动层厚度计量,可精确测量晶圆层。还配备了专利自动对焦亲笔签名机，用于深度测量。这项技术旨在减少对手动重新聚焦的需求,并允许对晶圆层进行快速、精确的计量,将其降低到0.3微米。该工具还包括用于缺陷检查的高分辨率图像采集资产。这使用户能够快速轻松地检查晶片是否有任何差异。该模型还提供了广泛的特性和功能。它可以使用多种介质，包括石英、陶瓷、铝、不锈钢等金属。它可以测量各种晶圆特性，包括表面平坦度、厚度、结构、表面粗糙度、晶粒尺寸和碳纳米管计数。它还可以测量频率范围高达6 GHz的微波。FRT MicroProf CWL300设计易于设置和使用。它直观的用户界面和板载帮助功能使用户使用设备变得容易。它设计为能够执行可重复的测量并帮助消除操作员错误。设备还包括用于远程访问和数据传输的在线服务。这允许远程监控和支持,从而使用户可以轻松监控性能并根据需要进行调整。总之，MicroProf CWL300是一个功能强大、功能丰富的晶圆测试和计量系统。它设计为易于设置和使用，并提供准确、可重复的测量。FRT MicroProf CWL300具有自动层厚度计量、高分辨率成像和远程服务功能,是寻求可靠晶圆计量的用户的理想选择。