二手 FRT MicroProf TTV200 #293657324 待售

ID: 293657324
优质的: 2011
Flatness measuring system Wafer testing and metrology (2) Chromatic sensors FRT CWL 600 pm XY Stage: 250 x 200 mm² Sensor coarse approach Motorized linear axis Video view Granite base plate Computer and electronics unit Operating manual 2011 vintage.
FRT MicroProf TTV200是FRT GmbH为在线和工程目的开发的晶圆测试和计量设备。该系统具有4-6轴晶片级,可进行全测试,提供自动光学、地形、电气和统计过程控制。与一系列样品类型兼容,设备的单面测试头允许同时在晶片的正面和背面进行测量。该机器的计量核心由一个线形扫描干涉仪(LSI)和三轴视觉传感器提供动力,这两个传感器都利用了Fizeau干扰,并在微米范围内提供检查。即使是结构严密的晶片也可以用这个工具来测量,这要归功于它的配置。此外,该资产的电气测试功能得到了带有UHT(超高吞吐量)的微小4x4 mm探针卡的补充,并提供了无与伦比的测试精度。MicroProf TTV200通过其图像处理单元和开放式应用程序编程接口(API)提供卓越的性能。该型号的开放式API是定制应用的强大工具,为设备的进一步开发提供了巨大的潜力。其10千兆位以太网图像流接口和Gigalink Flux流接口可实现最大的图像捕获速度,确保快速测试和干净的数据传输。该系统还为定制的应用需求提供优化的晶圆映射。这一特性利用了机动化晶片级和RPC(旋转路径校正)算法。该单元能够测量80-200 μ m的线条,其高分辨率图像捕获功能使其非常适合测量接缝和其他可见特征。最后,FRT MicroProf TTV200是一个全面的软件包,具有许多其他功能。该机器为车道间比较和统计以及流程优化和开发提供支持。凭借简单直观的用户界面,该工具易于设置和使用,确保了晶圆测试和计量的最大生产力。
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