二手 FRT MicroProf TTV200 #9390955 待售

FRT MicroProf TTV200是一种非接触式自动化晶圆测试和计量设备,旨在分析半导体制造业中的薄膜和基板微结构。它具有双光学系统、四轴电动级和高级软件平台。系统的核心是两个光学系统；一个用于分析样品的薄膜厚度，另一个用于测量微尺度表面特征。薄膜厚度机采用偏振激光源和基于CCD的检测工具。它提供对样品薄膜厚度的高精度测量，其精度和动态范围大于传统光学系统。表面计量资产适用于测量微观结构的表面地形或微观或纳米尺度特征的纹理。它使用高分辨率激光共聚焦显微镜获取表面特征的详细3-D轮廓。然后使用软件控制成像算法区分特征，确定粗糙度和形状等形状参数。MicroProf TTV200还具有一个四轴电动级,允许在广泛的晶圆直径范围内进行测量。定位器的精度非常精确，允许快速高效的样品测试。一个直观的软件平台，让数据采集和分析成为微风。它具有全面的测量和数据可视化工具,使用户能够获得对样本结构的准确和详细的测量。最后,FRT MicroProf TTV200非接触式、自动化晶片测试和计量模型提供了对薄膜和微结构的高精度、详细和可靠的测量。它具有双光学系统、高分辨率成像算法、四轴电动级以及直观的软件平台。