二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9191116 待售
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ID: 9191116
优质的: 2002
Film stress measurement system
Wafer bow
Dual ASYST FOUP loaders, 12"
2D & 3D Wafer mapping
Auto dual laser switching for maximum flexibility
Auto thickness measurement
Brooks robot, 017-0266-01
Controller, 002-9400-04
Pre aligner, 017-0266-01
2002 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C是为评估半导体测试晶片而设计的晶圆测试和计量设备。该系统在高速、可变温度的环境中运行,允许对半导体晶圆进行全面分析。FSM 128L C2C在整个测量过程中提供了晶圆温度、湿度和大气压力的精确控制,确保了准确的结果。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C由3个主要组件组成-晶圆测试阶段、测量阶段以及电机和控制单元。晶片测试阶段支持各种样品形状、尺寸和材料,并且能够测试直径最大为128mm的晶片。测量级配备了光学和电传感能力,以精确测量电阻、电流、电容、桥接测试和其他电气度量。最后,电机和控制机负责控制测试和测量阶段的运行,允许进行可编程、自动化的数据采集和车载计量分析。除上述组件外,FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C还提供了改进晶圆分选和监控的一系列功能。该工具配有内置摄像头和软件,便于串联晶片对准和排序。它还支持集成数据分析,为用户提供识别和隔离测试晶片上有缺陷组件的必要工具。最后,将每个晶片自动分割为单独测量的站点,可以实现高度准确、精确的数据报告。总体而言,FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C是一种功能丰富、用途广泛的测试和计量资产,旨在实现半导体测试晶片的精确测试。FSM 128LC2C具有高速、可变温度的运行以及可靠的数据报告和分析工具,是确保半导体生产一致可靠的理想模型。
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