二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 900 #9293062 待售

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 900是一种晶圆测试和计量设备，设计用于提供半导体晶圆的高速和精确测量。该系统可用于各种晶圆计量过程，如缺陷检测、故障检测、缺陷定位、电容对电压（C-V）测量和电气参数测试。FSM 900配备了自动化晶片处理单元，能够以各种配置加载晶片。这台机器能够利用光学和电气探针精确检测和定位晶片表面的缺陷。它还具有在线过程监控和自动缺陷分析的能力。该工具配备了真空载荷端口（VLP），无需使用手动程序即可实现晶圆处理，如Pick-and-Place。FRONTIER SEMICONDUCTOR 900还配备了先进的模具粘合资产，无需在晶圆上手动粘合模具。该模型还配备了先进的C-V测量设备，能够精确测量半导体器件的电气参数。该系统具有测量和分析每秒高达10,000点的C-V曲线的能力。900还具有全面的缺陷定位单元,可以精确定位芯片上和芯片外的缺陷。该机器还配备了先进的光学成像工具，能够对晶片进行高分辨率成像。该资产还能够使用强大的软件算法（如自适应阈值和几何形态）对晶片执行诊断。最后，FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 900可用于各种晶圆计量过程。它配备了自动化晶片处理模型、模具结合设备、C-V测量系统和缺陷定位单元。它还配备了先进的光学成像机，用于高分辨率成像。该工具能够对半导体晶片进行精确和高速的测量。