二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128NT #201040 待售

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128NT Wafer Testing and Metrology Equipment是一种自动化测试和测量解决方桉,旨在帮助半导体织物达到当今制造工艺的高可靠性目标。FSM 128NT针对从深亚微米到MEMS和光电子的广泛技术进行了优化，并利用最新的无损测试技术验证产量，确保质量一致。该系统提供先进的自动化晶圆测试和分析功能,使半导体公司能够实现更高水平的过程控制和过程可靠性。它结合了运动控制和光学技术，包括高分辨率、基于能力的光学计量单元和多区多功能运动控制技术。自动化的缺陷检测和审查可实现快速、高度准确的测试结果。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT配备了强大的图形用户界面,可提供易于使用和直观的体验。其现成的软件使其易于定制和维护；其他功能使用户能够通过网络实时访问和查看测试结果。此外,该机器还提供最先进的过程控制功能,包括缺陷分类和审查,以减少上市时间并改进晶圆测试结果。该工具的硬件设计支持各种晶圆尺寸,从3.2英寸到200毫米,以及一系列测试技术,包括参数分析和瞬态分析,以及封装级测试。该资产包括生产前测试解决方桉,使设计人员能够对具有不同测试计划和公差的过程执行自动化测试。通过128NT,测试时间大大缩短,生产过程效率提高。自动测试和分析过程可以减少处理时间（通常在10%到20%）,从而腾出宝贵的生产时间。此外，数据分析能力，如统计过程控制，提供准确和可重复的结果。此外,FSM 128-NT具有高度可配置性,并提供了许多功能,使其用户能够自定义测试和分析过程以获得最佳结果。高级功能（如多模式识别）允许模型识别和分类细微且难以检测的缺陷,而这些缺陷通常很难通过手动测试来识别。此外，设备在人工检查困难或耗时的地区提供模块化检查和签到。FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT是一种先进的晶圆测试和计量系统,非常适合确保半导体制造过程的高可靠性。它的自动化测试和分析功能被设计为高度准确、可重复和高效,从而缩短了上市时间,同时提高了产量。该单元与各种技术兼容,并提供全面的数据分析功能,以实现准确、可重复的结果。