二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413 #9159951 待售

ID: 9159951
优质的: 2013
Wafer thickness measurement system 2013 vintage.
来自FSM的FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413晶圆测试和计量设备是一个专为计量和过程控制而设计的全自动系统。该单元能够对稀释样品和非稀释样品进行高精度测量,同时为晶片提供质量保证。FSM FSM 413先进的光学和成像技术提供了卓越的成像能力,分辨率降至4nm,光信噪比(SNR)高达800:1。该机具有广泛的工作电压范围,以容纳各种晶片,范围从几毫安的电流抽取到1安培。此外,其先进的激光技术为快速准确的测量大面积提供了宽束直径。FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413利用单色CCD特征阵列在晶圆表面进行多通道测量。这使用户能够准确地测量和监视晶片表面的自动化电气、光学和材料特性。该测量工具还具有高精度机械级,可精确定位晶圆,并提供有关量规可重复性的反馈。资产最令人印象深刻的特点之一是其全自动晶圆测试和计量模型。该设备采用专有的自动聚焦跟踪系统,以确保每个晶片的最佳图像捕获,从而准确测量参数。它还提供了存储各种测量值的大内存容量以及简单直观的图形用户界面,这使得FSM 413易于使用。此外,FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413可以与多种第三方硬件耦合,以允许扩展功能和过程控制。这使得将单元整合到现有生产线和工作流程中变得容易。此外,Frontier为FSM FSM 413开发了先进的支持软件,以提供准确快速的晶圆测试结果。总体而言,FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413是过程控制和计量应用的理想解决方桉。它结合了先进的光学、成像和自动化功能,使其成为晶圆生产和产量管理的强大工具。
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