二手 GCA / TROPEL II-150 #9285600 待售

GCA/TROPEL II-150晶片测试和计量设备是一种先进的高度自动化的半导体器件平面平面计量解决方桉，如硅片。它使用与舞台、对准和成像组件集成的低放大光学显微镜,以高精度执行各种临界表面测量。GCA II-150的最大动态范围高达300微米，可以测量从很小到很大的模式。它可以测量高达8 × 10个器件，设计目的是尽量减少操作员对结果精度的影响。该系统包括一个先进的抓帧成像单元，允许同时获取同一表面的多个图像，从而改善图像质量和自动优化成像条件。TROPEL II-150利用4点对齐扫描技术对多个图像进行自动配准。这使得机器能够以微米级精度映射整个区域。该工具还包括一系列用于3D成像的分析工具，可用于检测表面缺陷，这些缺陷来自外部材料或不规则性，小至10海里。资产包括功能强大的自动化平面表面发射器,为测量阵列曲面提供了关键功能。此功能确保了平坦度测量的一致、可重复的结果,并允许更精确地复制复杂形状。该模型的Total Focus技术同时从设备内的多个深度获取所有数据,从而改进了表面特性。II-150是一种易于使用且高度可靠的设备,可确保测量任何平面表面的准确、可重复的结果。它非常适合在任何半导体制造环境中使用,是计量和晶圆测试的经济高效的解决方桉。