二手 GMTECH Semichem #9395375 待售

GMTECH Semichem是一种晶圆测试和计量设备，设计用于精确测量晶圆表面特性。它可以使用X射线光谱和电子光谱技术测量广泛的纳米尺度特征，如线宽和迭加精度。该系统的优点是既准确又快速,使工程师能够快速获得分析其设计过程有效性所需的数据。Semichem可以高精度测量晶片上直径最大为5毫米的区域上的表面特征。它使用多种X射线光学系统，包括X射线源、X射线衍射仪和X射线探测器。X射线源产生与晶圆表面特征相互作用的X射线脉冲，产生可分析以计算线宽和迭加精度的衍射图样。然后X射线探测器捕获衍射并将数据发送回分析单元，工程师可以在其中解释数据并对其设计过程进行任何必要的调整。该机还能进行光学显微镜晶片分析。这包括检查缺陷、检查表面地形、确定薄膜厚度等用途。这类分析可以在广泛的放大倍数范围内进行，从而可以全面观察晶圆表面。显微镜图像可以用来指导计量数据分析，以确保它是正确的和有意义的。GMTECH Semichem工具设计为用户友好且高效。它具有包含基本光谱参数的内置物理库,确保工程师以最少的精力和时间获得准确的结果。它还具有直观的图形用户界面,允许用户配置资产以满足其严格的要求。该模型还可与X射线源和光学显微镜等集成的计量子系统配合使用，从而可以改进结果，而无需额外的硬件。Semichem设备非常适合在半导体设计和生产环境中使用,它可以提供必要的数据来指导和改进过程。它的高精度和速度使工程师能够快速调整和调整他们的设计，以确保最大效率、产量和盈利能力。此外，它的直观和用户友好的特点使它适合所有技能水平的工程师使用。